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一種新型的高精度頻率計

發布時間:2010-6-28 11:43    發布者:techieboy
關鍵詞: 頻率計
引言   
    時間頻率測量是電子測量的重要領域。頻率和時間的測量已越來越受到重視,長度、電壓等參數也可以轉化為與頻率測量有關的技術來確定。本文通過對傳統的多周期同步法進行探討,提出了多周期同步法與量化時延法相結合的測頻方法。
多周期同步法
  最簡單的測量頻率的方法是直接測頻法。直接測頻法就是在給定的閘門信號中填入脈沖,通過必要的計數電路,得到填充脈沖的個數,從而算出待測信號的頻率或周期。在直接測頻的基礎上發展的多周期同步測量方法,在目前的測頻系統中得到越來越廣泛的應用。多周期同步法測頻技術的實際閘門時間不是固定的值,而是被測信號的整周期倍,即與被測信號同步,因此消除了對被測信號計數時產生的±1個字誤差,測量精度大大提高,而且達到了在整個測量頻段的等精度測量,其原理框圖和波形圖如圖1所示。
設Na、Nb分別為計數器A和B記得的數值,τ’為閘門時間,則
Na=τ'·fx (1)
Nb=τ'·f0 (2)
計數器A的計數脈沖與閘門的開閉是完全同步的,因而不存在±1個字的計數誤差,由式(3)微分可得:
dNb=±1,τ'=Nb/f0 (5)
得到測量分辨率:
dfx/fx=±1/(τ'×f0) (6)
  由式(6)可以看出,測量分辨率與被測頻率的大小無關,僅與取樣時間及時基頻率有關,可以實現被測頻帶內的等精度測量。取樣時間越長,時基頻率越高,分辨率越高。多周期同步法與傳統的計數法測頻比較,測量精度明顯提高。
  在時頻測量方法中,多周期同步法是精度較高的一種,但仍然未解決±1個字的誤差,主要是因為實際閘門邊沿與標頻填充脈沖邊沿并不同步,如圖2所示。
  從圖2可以得出,Tx=N0T0-△t2+△t1,如果能準確測量出短時間間隔Δt1和Δt2,也就能夠準確測量出時間間隔Tx,消除±1個字的計數誤差,從而進一步提高精度。
為了測量短時間間隔Δt1和Δt2,通常使用模擬內插法或游標法與多周期同步法結合使用[1],雖然精度有很大提高,但終未能解決±1個字的誤差這個根本問題,而且這些方法設備復雜,不利于推廣。
要得到精度高,時間響應快,結構簡單的頻率和時間測量方法是比較困難的。
從結構盡量簡單同時兼顧精度的角度出發,將多周期同步法與基于量化時延的短時間間隔測量方法結合,實現了寬頻范圍內的等精度高分辨率測量。
量化時延法測短時間間隔  
光電信號可以在一定的介質中快速穩定的傳播,且在不同的介質中有不同的延時。通過將信號所產生的延時進行量化,實現了對短時間間隔的測量。
其基本原理是“串行延遲,并行計數”,而不同于傳統計數器的串行計數方法,即讓信號通過一系列的延時單元,依靠延時單元的延時穩定性,在計算機的控制下對延時狀態進行高速采集與數據處理,從而實現了對短時間間隔的精確測量。其原理如圖3所示。
  量化時延思想的實現依賴于延時單元的延時穩定性,其分辨率取決于單位延時單元的延遲時間。
  作為延時單元的器件可以是無源導線,有源門器件或其他電路。其中,導線的延遲時間較短(接近光速傳播的延遲),門電路的延遲時間相對較長。考慮到延遲可預測能力,最終選擇了CPLD器件,實現對短時間間隔的測量。
  將短時間間隔的開始信號送入延時鏈中傳播,當結束信號到來時,將此信號在延時鏈中的延時狀態進行鎖存,通過CPU讀取,判斷信號經過的延時單元個數就可以得到短時時間間隔的大小,分辨率決定于單位延時單元的延時時間。
  一般來講,為了測量兩個短時間間隔,使用兩組延時和鎖存模塊,但實際上,給定的軟件閘門時間足夠大,允許CPU完成取數的操作,即能夠在待測時間間隔結束之前取走短時間隔Δt1對應的延時單元的個數,通過一定的控制信號,可以只用一組延時和鎖存單元,這樣可以節省
  CPLD內部的資源。利用多周期同步與量化時延相結合的方法,
  計算公式為:
  T=n0t0+n1t1-n2t1 (7)
  式(7)中,n0為對填充脈沖的計數值;t0為填充脈沖的周期,即100ns;n1為短時間隔Δt1對應的延時單元的個數;n2為短時間隔Δt2對應的延時單元的個數;t1為量化延遲器件延時單元的延遲量(4.3ns)。   這樣,利用多周期同步法,實現了閘門和被測信號同步;利用量化時延法,測量了原來測不出來的兩個短時間間隔,從而準確地測量了實際閘門的大小,也就提高了測頻的精度。
測量結果及分析
  把銣頻標作為樣機和XDU-17型頻率計的頻標,把頻率合成器輸出的信號作為被測信號進行測量,其結果如表1所示。
  由于頻率合成器輸出的頻率信號最小只能調到10Hz,把XDU-17的測量值作為標準,可以計算出樣機測頻的精度。
  例如,被測信號為15.000010MHz時被測信號為5.00001002MHz時,
  從上面的計算可以看出,樣機的分辨率已達ns量級,下面從理論分析的角度來說明這一點。
  前面已經分析過,多周期同步法測頻時,它的測量不確定度為:
  當輸入f0為10MHz,閘門時間為1s時,測量的不確定度為±1×10-7/s。當與量化延時測量與短時間間隔電路相結合時,測量的不確定度可以從下述推導出來。
  在采用多周期同步法時,Tx為待測的多周期值,T0為采用的時基周期。
Tx= NT0+△t1-△t2 (9)
  與量化延時電路相結合后有:
Tx= NT0+(N1-N2)td±δTx (10)
  這里,δTx為測量的不準確度。
  對上式微分得: δTx≤±2td (11)
  由(11)式可知,此方法的測量精度取決于td,它的穩定性與大小直接影響測量值的不確定度。所以采用各種方法,計數器可在整個頻率量程內實現等精度的測量,而且測量精度有顯著提高,測量分辨率提高到4.3ns,且消除了±1個字的理論誤差,精度提高了20多倍。
結束語   本文將給出了一種新的測頻方法。基于此方法的頻率計的數字電路部分集成在一片CPLD中,大大減小了整個儀器的體積,提高了可靠性,且達到了很高的測量分辨率。
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