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基于LabVIEW的光譜數據采集與分析

發布時間:2014-12-16 14:58    發布者:designapp

        1.引言

隨著科學技術的發展和光譜分析系統的廣泛研究,人們對光譜分析系統的主要指標,如光譜測量范圍、分辨率、精度等方面,都提出了越來越高的要求,光譜儀現在的發展方向是微型化、自動化和高精度化。因此,本文引入了新興的虛擬儀器技術,設計了一個基于LabVIEW的光譜分析及數據采集系統,使光譜分析系統整體性能有所提高,并且操作簡單,功能較強。

2.系統設計

2.1 系統結構

根據光譜分析采集系統的工作流程,將整個系統分為光學系統設計、硬件設計及應用程序設計三部分工作。光譜分析系統是典型的基于光電探測器進行測量的光電檢測儀器,所以結合系統的設計要求,為了滿足微型化以及低成本的要求,考慮使用線陣CCD探測器。光柵分出的光由TCD1304AP型號線陣CCD采集接收,由調理電路進行放大濾波處理輸送給A/D模數轉換器,將模擬信號轉換成數字信號,最后由PXI-6289采集到數據輸送給上位機,選擇LabVIEW接收數據、顯示及分析等工作。

2.2 分光系統部分

分光系統是光譜分析系統中的關鍵部件,直接決定著系統的分光性能。光譜儀器的分光方式有多種,根據光譜測量方式的不同,分為濾光片分光、棱鏡分光、光柵分光。本文選用的是光柵分光方式。這種設計結構簡單,光損耗小,分辨率高、信噪比高。現在流行的CaernyTurner分光系統是一種非常緊湊的光學系統,把光路盡可能的簡化。

2.3 數據采集部分

采用NI公司的數據采集卡PXI-6289,它可以直接插入工控機的PXI插槽中,即插即用,PXI-6289是一種高性能多功能數據采集卡,配有2.0GHz雙核處理器,轉換速度最大可達40kHz,并且為用戶提供32路模擬輸入通道,由于LabVIEW對其提供了驅動程序,所以采集數據是可直接調用軟件中的采集函數,非常方便。

根據系統指標要求,設計選擇使用TCD-1304AP,由于輸出的模擬信號比較微弱,通常只有幾百毫伏,要想在實際應用中獲得高質量的輸出信號和高的系統信噪比,必須先對CCD的輸出信號進行調理放大,經過一個射級跟隨器進行功率放大,并對噪聲進行一定的抑制,最大限度的濾除暗電流和低噪聲信號所帶來的干擾。TCD1304AP輸出的模擬信號送入到以CLC409搭建的差分電路進行處理。




       

2.4 數據處理部分

由于數據采集過程中內在噪聲,光路噪聲等因素的存在,直接影響了系統的信噪比。所以要對得到的樣品光譜信息進行濾噪處理。

由信號的處理方向可以分為兩種濾波器

模擬濾波器和數字濾波器。傳統模擬濾波器的輸入和輸出都是連續的,而數字濾波器的輸入與輸出都是離散時間信號。在LabVIEW中所要研究的都是數字濾波器(計算機中進行信號處理的都是數字信號)。

(l)多次測量結果的累加平均

在對原始數據進行濾波時,我們采用了多次測量,對測量結果進行累加最終取平均值的方法。測量的次數可以由用戶根據自己的要求自行設定。設用戶設定的測量次數為n次,則所得到的結果為:




(2)光譜圖像的平滑濾波

與上述平均值濾波方式有所不同的是,這里所論述的平滑濾波方式是在空間上對某個數據的平滑處理。對于某次測量采集得到的N個數據,我們采用以下的平滑濾波公式:





其中,S為x1的處理鄰域,m為S所包含的數據個數。比如m為7,那么每個被處理的數據前后各取3個數據進行平滑濾波。

2.5 軟件設計部分

前面板整體的布局是根據用戶對界面的操作需要而設計的。
系統主界面如圖1所示:




界面的左面部分是系統的控制面板,主要控制執行系統的某一些任務,比如波峰的自動尋找,波長的檢索以及顯示數值。系統的中間部分是CCD每個像元所對應的光強幅值。系統的右面部分主要實現數據的顯示,光強值與像元的相對應以及光強值與定標后的波長的相對應。所以實現了光譜圖像的顯示功能。

實現以上控制面板中功能的源代碼,是應用圖形編程語言編寫。框圖中包含有各種圖形化函數、常量、變量、算法結構和連線等,從前面板中接收到用戶輸入的數據后,就會到設備內部運行相關指令參數進行相關操作,依據編好的程序,采用數據流的方式遍歷程序,最后給出運行結果反饋給用戶。




       

3.系統測試及分析

本節采取特性光譜標定的方法對光譜進行相應地光譜標定,找到特定譜線在CCD上對應像元點位置。測試中選用低壓汞燈來完成相對容易的光譜標定。汞燈有六條特性譜線:
366.5nm,404.66nm,435.8nm,546.7nm,576.96nm,579.96nm尋找出于基準光譜下的波峰值波長相關的幾條光譜曲線所對的CCD像素序號,并且通過運用最小二乘法來完成三階多項式的擬合。倘若這六條譜線為y1、y2、y3、y4、y5、y6,采集到的六條譜線與之相關的像元序號為x1、x2、x3、x4、x5、x6,由于光譜數寬度的選擇比較窄以及像面彎曲等其他原因,導致采用最小二乘法三階多項式擬合相對線性擬合誤差要小一些,設擬合曲線方程為y=p(x),則:




  
按照最小二乘原則可以得到最小二乘方程式的系數解,由此可確定擬合方程,進而進行特征譜線的標定及測量工作。

4.結論

本文選用線陣CCD作為光電探測器件,實現寬光譜、高分辨率的測量需求。用LabVIEW結合PXI采集卡實現光譜數據采集、分析、顯示功能,具有開發周期短、簡單、實用等特點,穩定性較好,能夠滿足多種光譜分析需求。


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