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采用像差校正電子顯微技術的最新成果，美國能源部橡樹嶺國家實驗室的研究人員與他們的同事已經得到了首批可以辨別硼原子、碳原子、氮原子及氧原子等單個輕原子的圖像。材料科學與技術部門的研究人員斯蒂芬·潘尼庫克說：“該研究標志著首次實現了對一種非周期材料中大部分原子進行成像與化學識別。” 新型成像技術使材料學研究人員可以通過對試驗材料的每種原子進行逐一分析來研究其分子結構，并發現這些材料中的結構缺陷，其中有些缺陷是在試圖改變材料性能的過程中形成的。環形暗場分析實驗在一臺經過優化處理的100kV的Nion牌UltraSTEM型顯微鏡下進行，優化后的顯微鏡適用于 60kV的較低電壓。像差校正技術的設想最早出現于幾十年前，但直到最近該技術才借助計算領域的進展而得以實現。該技術的研究團隊除潘尼庫克與同事馬修· 齊斯蒙之外，還有來自范德比爾特(Vanderbilt)大學、牛津大學及Nion公司（位于華盛頓州Kirkland市）的人員加盟，本研究中的顯微鏡就是由Nion公司設計并建造的。《自然》雜志上發表了一篇介紹該團隊相關研究的文章。如需更多信息，請訪問：www.ornl.gov/info/press_releases。 |
