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可見光二極管（LED）以其高效率和長壽命的特點(diǎn)廣受歡迎，正獲得越來越廣泛的應(yīng)用，包括汽車顯示器和外部大燈、路燈、戶外標(biāo)識、視頻監(jiān)控器等。廣大LED廠商在研發(fā)方面大量投入，已經(jīng)推出了具有更高亮度、更新色彩和更長壽命的LED產(chǎn)品，將促使其具有更廣泛的應(yīng)用需求。現(xiàn)在比以往任何時候更加需要高性價比的測試方法確保這類器件的可靠性與質(zhì)量。 在不同的生產(chǎn)階段LED測試涉及不同類型的測試序列，例如設(shè)計研究與開發(fā)階段、生產(chǎn)過程的晶圓級測量以及封裝器件的最終測試。具體的測試“處方”通常包含多個步驟，以檢驗產(chǎn)品壽命，或者分析特定性能指標(biāo)數(shù)據(jù)，但是這些內(nèi)容超出了本應(yīng)用筆記的范圍。本文旨在提供關(guān)于這些處方所需“成份”的實際資料——幫助說明如何探測二極管特性的基本測試以及測試配置范例。本文還介紹了如何利用最新的測試技術(shù)提高測試產(chǎn)能，包括支持吉時利測試腳本處理器（TSPTM）的測試儀器。 下載： 
201401131.pdf
(1.03 MB)
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