隨著嵌入式系統設計中的電路越來越完善、容限越來越緊張,設計調試和驗證過程中出現了許多新的問題。必須測量短期穩定性、漂移和波動等參數,了解電路在測量期間的行為。如果未能迅速發現難檢問題,如間歇性瞬態信號和毛刺,那么可能會使項目耽擱幾天或幾周的時間。 為在更長的時間周期內調試難檢問題、測量器件行為,工程師們必須捕獲和分析數千個測量數據點,這要求記錄大量的數據或追蹤測量趨勢,而傳統精密數字萬用表是不能做到這一點的。 泰克 DMM4050 和 DMM4040 臺式萬用表提供了一種獨特的功能,滿足了這一需求。TrendPlotTM無紙化記錄器模式為實時捕獲和顯示最小百萬分之幾的指標變化提供了簡單的方法,而沒有耗時的設置或自定義編程工作。TrendPlot 利用機載信號處理能力和高性能模數轉換器,把測量指標的時序轉化成容易存儲和分析的表格,同時仍保持信息細節。 下載: |