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AT91SAM9261 功能描述 1.1 測試引腳 一個專用引腳，TST，被用于定義設備操作模式。用戶必須確保此引腳拉至低電平以確保正常操作。和此引腳關聯(lián)的其他值為生產(chǎn)測試預留。 1.2 嵌入式電路內部仿真器(Embedded In-circuit Emulator) ARM9EJ-S 嵌入式ICE-RTTM 通過ICE/JTAG 端口支持。它由一個ICE 接口連接到一個計算機主機。調試支持由一個內嵌在ARM926EJ-S 中的ARM9EJ-S 內核實現(xiàn)。 ARM926EJ-S 的內部狀態(tài)由一個ICE/JTAG 端口檢查，此端口允許指令在不通過外部數(shù)據(jù)總線的情況下被串行插入內核的流水線。因此，當在調試狀態(tài)，一個批量存儲（STM）可以被插入到指令流水線，這將可以導出ARM9EJ-S 寄存器的內容。此數(shù)據(jù)可以在不影響系統(tǒng)其余部分的情況下被串行移出。 ARM9EJ-S 處理器內部有兩條掃描鏈，掃描鏈支持測試，調試，和EmbeddedICE-RT 的編程。此掃描鏈被ICE/JTAG 控制。 當 JTAGSEL 為低電平時，EmbeddedICE 模式被選擇。直接在ICE 與JTAG 操作之間轉換是不能實現(xiàn)的。在JTAGSEL 電平改變后必須進行芯片復位。 1.3 JTAG 信號描述 TMS 是測試模式輸入，此輸入控制測試接口狀態(tài)機器的轉換。TDI 是測試數(shù)據(jù)輸入，此輸入提供數(shù)據(jù)到JTAG 寄存器（邊界掃描寄存器，指令寄存器，或其他數(shù)據(jù)寄存器）。 TDO 是測試數(shù)據(jù)輸出，此輸出被用作從JTAG 寄存器到控制測試設備串行的輸出數(shù)據(jù)。它從邊界掃描鏈（或其他JTAG 寄存器）傳送采樣值并傳送采樣值到串行測試電路中的下一個芯片。 NTRST（在IEEE 標準1149.1 中為可選信號）是一個測試復位輸入，此輸入在ARM 內核是強制的并且用于復位調試邏輯。在Atmel 基于ARM926EJ-S 的內核中，NTRST 是一個上電復位輸出。上電時有效。如果必要，用戶還可以保持NTRST有效2.5 個MCK 周期來復位調試邏輯。 TCK 是測試時鐘輸入，此輸入使能測試接口。TCK 由控制測試的設備而不是被測試設備產(chǎn)生。它可以使用任何頻率脈沖。注意，ARM926EJ-S 內核上最大的JTAG時鐘速率是CPU 時鐘的六分之一。在一個從32.768kHz 慢時鐘運行的ARM9E上，最大的初始JTAG 時鐘速率是5.45kHz。 RTCK 是一個返回測試時鐘。不是一個IEEE 標準1149.1 中的信號，這個信號被引入是為了使仿真器能更好的處理時鐘。從一些ICE 接口探測，此返回信號可以被用于同步TCK時鐘而不用擔心ICE接口時鐘和系統(tǒng)時鐘之間需要遵守給定的六分之一比率。此信號僅在JTAG ICE 模式下可用，在邊界掃描模式下不可用。 1.4 調試部件 調試部件提供一個雙引腳(DXRD 和TXRD) USART。此USART 可以被用于一些調試和跟蹤目的，并提供一個現(xiàn)場(in-site)編程和調試監(jiān)視通信的理想方案。此外，兩個與通道關聯(lián)的外設DMA 控制器使得這些任務包的處理時間減到最小。調試部件還管理COMMTX 和COMMRX 信號的中斷處理，這些信號來于ICE 并用于跟蹤調試通信通道的活動。調試部件可以阻止通過ICE 接口來訪問系統(tǒng)。一個特定的寄存器，調試部件芯片ID 寄存器，給出了產(chǎn)品版本和其內部結構的信 息。 AT91SAM9261 調試部件芯片ID 是一個32 位寬度的值：0x0197 03A0。 文章來源：http://www.originic.hk/Item/Show.asp?m=1&d=1431 |
