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AT91SAM9261 功能描述 1.1 測試引腳 一個專用引腳，TST，被用于定義設備操作模式。用戶必須確保此引腳拉至低電平以確保正常操作。和此引腳關聯的其他值為生產測試預留。 1.2 嵌入式電路內部仿真器(Embedded In-circuit Emulator) ARM9EJ-S 嵌入式ICE-RTTM 通過ICE/JTAG 端口支持。它由一個ICE 接口連接到一個計算機主機。調試支持由一個內嵌在ARM926EJ-S 中的ARM9EJ-S 內核實現。 ARM926EJ-S 的內部狀態由一個ICE/JTAG 端口檢查，此端口允許指令在不通過外部數據總線的情況下被串行插入內核的流水線。因此，當在調試狀態，一個批量存儲（STM）可以被插入到指令流水線，這將可以導出ARM9EJ-S 寄存器的內容。此數據可以在不影響系統其余部分的情況下被串行移出。 ARM9EJ-S 處理器內部有兩條掃描鏈，掃描鏈支持測試，調試，和EmbeddedICE-RT 的編程。此掃描鏈被ICE/JTAG 控制。 當 JTAGSEL 為低電平時，EmbeddedICE 模式被選擇。直接在ICE 與JTAG 操作之間轉換是不能實現的。在JTAGSEL 電平改變后必須進行芯片復位。 1.3 JTAG 信號描述 TMS 是測試模式輸入，此輸入控制測試接口狀態機器的轉換。TDI 是測試數據輸入，此輸入提供數據到JTAG 寄存器（邊界掃描寄存器，指令寄存器，或其他數據寄存器）。 TDO 是測試數據輸出，此輸出被用作從JTAG 寄存器到控制測試設備串行的輸出數據。它從邊界掃描鏈（或其他JTAG 寄存器）傳送采樣值并傳送采樣值到串行測試電路中的下一個芯片。 NTRST（在IEEE 標準1149.1 中為可選信號）是一個測試復位輸入，此輸入在ARM 內核是強制的并且用于復位調試邏輯。在Atmel 基于ARM926EJ-S 的內核中，NTRST 是一個上電復位輸出。上電時有效。如果必要，用戶還可以保持NTRST有效2.5 個MCK 周期來復位調試邏輯。 TCK 是測試時鐘輸入，此輸入使能測試接口。TCK 由控制測試的設備而不是被測試設備產生。它可以使用任何頻率脈沖。注意，ARM926EJ-S 內核上最大的JTAG時鐘速率是CPU 時鐘的六分之一。在一個從32.768kHz 慢時鐘運行的ARM9E上，最大的初始JTAG 時鐘速率是5.45kHz。 RTCK 是一個返回測試時鐘。不是一個IEEE 標準1149.1 中的信號，這個信號被引入是為了使仿真器能更好的處理時鐘。從一些ICE 接口探測，此返回信號可以被用于同步TCK時鐘而不用擔心ICE接口時鐘和系統時鐘之間需要遵守給定的六分之一比率。此信號僅在JTAG ICE 模式下可用，在邊界掃描模式下不可用。 1.4 調試部件 調試部件提供一個雙引腳(DXRD 和TXRD) USART。此USART 可以被用于一些調試和跟蹤目的，并提供一個現場(in-site)編程和調試監視通信的理想方案。此外，兩個與通道關聯的外設DMA 控制器使得這些任務包的處理時間減到最小。調試部件還管理COMMTX 和COMMRX 信號的中斷處理，這些信號來于ICE 并用于跟蹤調試通信通道的活動。調試部件可以阻止通過ICE 接口來訪問系統。一個特定的寄存器，調試部件芯片ID 寄存器，給出了產品版本和其內部結構的信 息。 AT91SAM9261 調試部件芯片ID 是一個32 位寬度的值：0x0197 03A0。 文章來源：http://www.originic.hk/Item/Show.asp?m=1&d=1431 |
