TSP-2000R 四探針法測試電阻率四探針法測量半導體電阻率方案系統背景 電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數,為了表 征工藝質量以及材料的摻雜情況,需要測試材料的電阻 率。半導體材料電阻率測試方法有很多種 ...