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半導體可靠性測試系統領導廠商思達科技，宣布一體化SMU-per-pin測試系統—思達冥王星STAr Pluto-hiVIP，已獲得半導體標竿行業客戶訂單且完成出貨。此系統配置應用在TSV、銅柱(Copper-Pillar)、微凸塊(micro-bump)等多腳數器件的低/大電流動態AC電子遷移和老化測試，以及高壓、高功率HCI和NBTI HCI/NBTI，與高壓GOI可靠性測試。 思達冥王星Pluto系列是次世代可靠性測試解決方案，應用范圍包括封裝級和晶圓級驗證，多樣配置可滿足EM、HCI、NBTI、TDDB等的行業測試要求。此系列中Pluto-hiVIP，是一款新型、支持更高電流和電壓的高端測試系統，具有可以輕松升級至大容量系統的彈性架構，單一系統內可進行多個應用。 最大配置包括48個電源與量測單元 (SMU，Source and Measurement Unit)，每個模塊具有2個獨立電源，共有96個電源可進行多被測器件數的驗證，實現更高的測試性能，同時顯著增加高電流和電壓可靠性測試容量。 思達冥王星Pluto-hiVIP是完整的集成封裝級高溫可靠性測試解決方案，開發應用在支持大電流EM、大功率HCI/BTI和高壓TDDB驗證。設計用在并行應力和測試，最大可支持4.0A dc，高擊穿電壓可達100V，熱溫室溫度在18至400攝氏度，被測器件（DUT）板具有零插入力測試插座，確保一整個環境，適合在單個系統內進行從室溫HCI至高溫EM的全套可靠性測試。冥王星Pluto-hiVIP系統，實現了主要而關鍵的高精度測試結果和驗證性能。 思達科技執行長與技術長劉俊良博士表示，“此次接單出貨代表行業客戶對于STAr Pluto系列，卓越的能力、效率和測試精度的肯定。Pluto系列測試系統，是以新的硬件和軟件架構為基礎，滿足現今和未來的半導體驗證測試要求，同時減少客戶的測試工程人力時間成本，達到最好的測試表現和更高的產能。”
Img. 思達冥王星Pluto-hiVIP測試系統 |
