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電阻精度的問題看起來比想象的要復(fù)雜些。電阻有三種基本類型： Bulk Metal 箔、薄膜及厚膜，這三種電阻表面上看起來很相似，并且可能具有類似的采購規(guī)格。但實際上，這三種電阻的制造方式均不同。本身固有的設(shè)計與處理將極大影響電氣性能，因此在安裝后，這三種電阻的行為均不相同。當(dāng)外部及內(nèi)部溫度改變時，這些差異會變得非常明顯且至關(guān)重要。此外，長期穩(wěn)定性、濕度及其它環(huán)境條件的影響會隨時間推移而產(chǎn)生額外影響。這一點應(yīng)加以考慮，當(dāng)電路要求對信噪比 (SNR) 及脈沖響應(yīng)來說更加苛刻時更應(yīng)如此。因此，一些所謂的高精度電阻在用于電路后結(jié)果卻達不到人們可能期望的精度。要生產(chǎn)具有高精度及高穩(wěn)定性的電阻，重要的是能夠控制溫度及環(huán)境條件對電阻器件的影響。 在具有低 TCR 值的高精度電阻中，自加熱（焦耳效應(yīng)）會使電阻無法嚴格符合它們的 TCR 規(guī)范。這種不準確性會使電阻值在施加的功率下產(chǎn)生錯誤。選擇相應(yīng)的高精度電阻前，應(yīng)仔細了解這三種不同的高精度電阻是如何制造的，并對它們進行測試，以了解它們在使用中的運行方式。 電阻功率系數(shù) 測試示例： 在該測試中，我們使用了大小相同 (1206) 且電阻值相同 (1 K) 的三種表面貼裝片式電阻。我們對下列每個電阻的 TCR 值進行了測試（MIL 范圍：-55℃ " +125℃，+25℃參考）：箔片式電阻、薄膜片式電阻及厚膜片式電阻。 我們有意選擇薄膜及厚膜電阻來獲得超低 TCR 值。 在 PCR 測試過程中，我們對這些電阻施加了 100 mW～500 mW 的功率，并測試了電阻值在整個測試過程中的變化。 我們使用了基本的惠斯登電橋電路。選擇該電橋臂的電阻值對測試電阻 (Rx) 施加高功率，同時確保其余三個支腳保持超低功率。當(dāng)功率增加時，Rx 中的任何變化均是由 Rx 的自加熱導(dǎo)致的。 公式： Rb×Rx = Rstd×Ra? ( 1 K×1 K = 10Ω×100 K )?? Ra：100 K， 額定功率：+125℃時為 0.3W，Rb = 1K，額定功率：+125℃時為 0.3W，Rstd：10Ω，額定功率：+125℃時為 0.3W? Rx = 1 K， 額定功率：+70℃時為 0.3W 結(jié)論: 在因以下兩種因素（環(huán)境溫度變化－TCR和負載變化焦耳效應(yīng)引起的內(nèi)部升溫 PCR）導(dǎo)致的電阻溫度變化過程中，高精度箔電阻實現(xiàn)了最可用的穩(wěn)定性。 |
