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泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀，旨在為主流嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)者提供強(qiáng)大的高端調(diào)試與分析能力。TLA6000系列以更低的價(jià)位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁有的性能和功能，相對(duì)便攜式TLA5000系列型號(hào)提供了更多的能力。 更高的信號(hào)傳輸速率和板卡密度通常會(huì)導(dǎo)致信號(hào)完整性問(wèn)題，例如串?dāng)_、地面反跳和鳴震，它們通常表現(xiàn)為數(shù)字系統(tǒng)的功能故障。TLA6000系列為工程師提供了一套完整的工具，可幫他們快速發(fā)現(xiàn)、隔離和解決這些難以隔離的問(wèn)題。 
強(qiáng)大性能滿(mǎn)足苛刻要求的應(yīng)用 TLA6000系列旨在滿(mǎn)足嵌入式系統(tǒng)工程師對(duì)于更高性能的需求，該系列包括68、102和136數(shù)字通道配置，所有通道上都帶有125 ps高速定時(shí)分析能力，可實(shí)現(xiàn)高達(dá)450 MHz的狀態(tài)采集能力和128 Mb的存儲(chǔ)深度。這一性能水平代表了重大的性?xún)r(jià)比突破。 TLA6000系列通過(guò)多項(xiàng)先進(jìn)的特性提高了工程設(shè)計(jì)效率，例如，iCaptureTM技術(shù)通過(guò)一只邏輯分析儀探頭同時(shí)提供數(shù)字采集和模擬采集，從而無(wú)須進(jìn)行兩次采集。毛刺觸發(fā)和存儲(chǔ)允許用戶(hù)觸發(fā)并顯示觀測(cè)到的信號(hào)完整性錯(cuò)誤，而iViewTM顯示可在同一個(gè)顯示屏上提供邏輯分析儀和示波器數(shù)據(jù)的時(shí)間相關(guān)的有用視圖。簡(jiǎn)單且直觀的儀器設(shè)置可幫助在繁忙的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中加快設(shè)計(jì)過(guò)程，從而節(jié)約時(shí)間。 TLA6000系列適用于多種調(diào)試和分析應(yīng)用領(lǐng)域，包括信號(hào)完整性分析、FPGA調(diào)試和驗(yàn)證、MIPI協(xié)議分析、存儲(chǔ)系統(tǒng)驗(yàn)證以及嵌入式軟件集成與調(diào)試。 TLA6000系列現(xiàn)已在全球上市。 |
