作者:一博科技 之前已經(jīng)講過DDR的前世今生,以及DDR的各種功能探秘,基本上對于DDR,我們已經(jīng)有了比較深刻的認識,接下來就是利用我們已有的標準,去解讀DDR。 通常,DDR設計完成之后 ,對信號質(zhì)量并沒有一個完全確定的概念,需要我們通過仿真和測試的手段去判斷和驗證。而此時,往往我們拿到的就是一個波形,測試波形或者仿真波形,該如何去判斷其信號質(zhì)量,參照的標準又是怎樣的,就是我們需要去考慮的重點。 DDR信號是數(shù)字信號,表現(xiàn)為0、1兩種形式,一般看到的波形都是類似于正弦波的樣式,什么時候判定為1,什么時候判定為0呢?每一個信號都是以電磁波的形式進行傳輸,因此一定具有相應的幅值,所以判定方法肯定是當幅值高于某一個值時,判定信號為1,低于某一個值時,判定為0。而判定的依據(jù)——某一個值就是可以從JEDEC中找到的。如圖一所示,是DDR3地址命令信號的AC、DC標準,對應相應的速率,就可以在波形上面標注出相應的VIH和VIL。當幅值范圍為VIHAC(min)~VIHDC(min)時,判定為1,當幅值范圍為VILAC(max)~VILDC(max)時判定為0,如下圖二所示 圖一 圖二 對于做為差分線的CK信號和DQS信號而言,判定的要求又分為單根和差分模式,單根模式的判定標準和地址數(shù)據(jù)線基本一致,如下圖三所示。它的判定標準只有VSEH和VSEL。實際這兩個值對應的就是VIH.AC和VIL.AC。 圖三 差分模式如圖四所示,數(shù)據(jù)見表格。 圖四 而且同時對兩個單根的交點也有一定的要求,如下圖五所示,兩個單根的交點位置要在VSEH和VSEL之間,否則的話差分模式下,正半周期和負半周期可能會有比較大的一個比例差異。 圖五 對信號幅值的要求不僅僅在這一個方面,幅值太小,會讓芯片無法識別信號,那么幅值越大,豈不是對于信號的判定越有利。其實不然,一般的芯片都會有一個耐壓值,高于該值,對于芯片的使用壽命會有一個較大的影響,所以,可以看到JEDEC中,還有一個Overshoot和Undershoot的概念,下面是DDR3對于信號這方面的一個要求,圖六中是對Overshoot和Undershoot一個面積區(qū)域和具體的數(shù)值的定義,即最大值的范圍在VSS-0.4~VDD+0.4之間,斜率按照相應的速率查找,其中斜率的定義對于數(shù)據(jù)線和地址線是有區(qū)別的,要用到的時候,在JEDEC中查找即可。 圖六 這些都是對DDR信號最基礎(chǔ)的認識,只是基于幅值方面的一些要求。 |