【作 者】（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蔣安平，馮建華，王新安譯 【出版商】 電子工業出版社 , 2005.07 【ISBN號】7-121-01490-4 【頁 數】 511 ; 26cm 國外電子與通信教材系列:本書系統介紹了VLSI測試包括數字、存儲器和混合信號三類電路測試和可測試性設計。內容包括測試基本概念、測試設備、測試經濟學和故障模型、測試方法等。 
超大規模集成電路測試：數字、存儲器和混合信號系統_[蔣安平 譯][電子工業出版社][200.rar
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