電源芯片測試環(huán)境 測試環(huán)境是影響電源芯片測試精準度的因素之一,在測試過程中要盡量將環(huán)境干擾降到最低。通常情況下,電源芯片測試需要在以下環(huán)境下進行: 溫度:25±2℃ ...