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電子工程網(wǎng)»論壇 › 技術(shù)區(qū) › 測(cè)試測(cè)量 › 什么是晶圓探針測(cè)試？如何實(shí)現(xiàn)探針臺(tái)的自動(dòng)化控制？

什么是晶圓探針測(cè)試？如何實(shí)現(xiàn)探針臺(tái)的自動(dòng)化控制？

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namisoft

發(fā)布時(shí)間: 2024-7-18 17:37

正文摘要:

　　什么是晶圓探針測(cè)試？　　晶圓探針測(cè)試也叫中間測(cè)試，是半導(dǎo)體(集成電路)生產(chǎn)過(guò)程中的重要步驟，通過(guò)探針臺(tái)檢測(cè)晶圓上芯片的性能來(lái)判斷芯片是否符合設(shè)計(jì)要求，從而減少在封裝過(guò)程中不必要的成本，同時(shí)也指導(dǎo)著 ...

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