每種芯片在設計階段都會對一些核心指標參數進行提前的計算規劃,而在芯片生產之后,也會對這些核心參數進行測試,兩組數據進行對比以便了解生產的芯片指標參數是否在當初設計時的規定范圍之內,從而整體把控芯片 ...