方案簡介:日前,基于SiC和GaN的第三代半導體技術蓬勃發展,其對應的分立器件性能測試需求也隨之而來。其較高的dv/dt與di/dt給性能測試帶了不少困難。泰克的TIVP系列光隔離探頭,以其優越的160dB共模抑制比,超低的 ...