TSP-2000-CV 分立器件 CV 特性測試半導體器件 C-V 特性測試方案系統(tǒng)背景 交流 C-V 測試可以揭示材料的氧化層厚度,晶圓工藝 的界面陷阱密度,摻雜濃度,摻雜分布以及載流子壽 命等,通常使用交流 C-V 測試方式來評估 ...