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安泰測(cè)試給西安電子科技大學(xué)某實(shí)驗(yàn)室提供方案—（十二）TSP-2000-CV 分立器件特性測(cè)試

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oho23

發(fā)布時(shí)間: 2022-5-6 15:47

正文摘要:

TSP-2000-CV 分立器件 CV 特性測(cè)試半導(dǎo)體器件 C-V 特性測(cè)試方案系統(tǒng)背景交流 C-V 測(cè)試可以揭示材料的氧化層厚度，晶圓工藝的界面陷阱密度，摻雜濃度，摻雜分布以及載流子壽命等，通常使用交流 C-V 測(cè)試方式來(lái)評(píng)估 ...

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