半導(dǎo)體解決方案TSP-2000-MICR 微小材料電阻測(cè)試 微小電阻測(cè)試方案系統(tǒng)背景 電阻測(cè)試是表征材料特性的較常用的測(cè)試手段,在某 些應(yīng)用中,用戶需要進(jìn)行極端微小電阻(Ultra-low resistance)測(cè)試,例如納米材料,超導(dǎo) ...