隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和微電子技術(shù)的迅速發(fā)展,AD芯片/DA芯片測試系統(tǒng)的應(yīng)用也越來越廣泛,將自動(dòng)化測試引入AD芯片/DA芯片的制造過程,其主要目的還是為芯片質(zhì)量與可靠性提供一種度量。今天介紹一款NSAT-2000 ...