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標題: 電容器的失效機理分析 [打印本頁]

作者: srvee 時間: 2010-3-18 13:39
標題: 電容器的失效機理分析
摘要：通過對各種電容器的內在結構及其失效模式的分析，結合我所現有設備的使用，對我所現使用的所有電容器進行了失效機理分析。

1 概述

電容器是電子設備中的重要元件。電容器種類較多，它們的主要失效模式和機理都不盡相同。常見的失效模式有擊穿短路、開路、電參數退化（容量變化、損耗角正切值增大、漏電流增大和絕緣電阻下降），電解液泄漏和引線腐蝕斷裂等。

開路和短路一類突然發生并完全失去功能的失效叫做致命失效（完全失效），因電參數超差而逐漸失去功能的失效叫做退化失效（部分失效）。其中致命失效危害極大，但退化失效往往是致命性失效的誘因和預兆。

電容器在工作應力（電壓、電流、脈沖電壓、高頻電流、脈動電壓）和環境應力（溫度、相對濕度、日照、時間、振動、沖擊、霉菌及有害氣體）的共同作用下會分別或同時發生某些失效模式和失效機理，隨著時間推移一種失效機理還會衍生出另一種失效機理。即使在一種應力作用下也能夠同時誘發兩種以上的失效機理。由于各種電容器的材料結構、制造工藝、性能和使用環境及條件的不同，其失效模式和機理也不相同。結合電容器的特點，根據實踐經驗，有幾種應力在激發電子元器件的內部缺陷方面特別有效。因此通常僅用幾種典型應力進行篩選。

1.1 溫度沖擊

溫度沖擊的目的是測定元器件承受極高溫和極低溫的能力，以及極高、低溫交替變化對器件的影響。溫度沖擊期間產生的電性能和外形損壞的變化，主要是由尺寸和其他物理性能變化引起的。

1.2 高溫負荷

高溫老化是一種靜態工藝，這種方法是使元器件在規定高溫下連續不斷的工作，以迫使早期故障出現。其篩選機理是通過提供額外的熱作用，迫使缺陷發展。高溫老化篩選是析出電子元器件缺陷的有效方法，廣泛用于元器件的篩選。

2 失效模式和機理分析

現在我就將各種電容器的主要失效模式和失效機理結合我所的實際**作進行一下簡單的分析。

2.1 固體鉭電解電容器的失效機理

固體鉭電解電容器的陽極是鉭粉經壓鑄和高溫燒結后形成的鉭柱（或塊），電介質是鉭柱表面的五氧化二鉭（Ta2O5）薄膜，電解質為二氧化錳。固體鉭電容器的失效機理與結構、材料、制造工藝和使用條件有密切關系。在可靠性試驗和使用過程中的主要失效模式為瞬時短路、突然擊穿、漏電流增大和損耗角正切值增加等。

2.1.1 瞬時短路

瞬時短路是固體鉭電解電容器的常見失效模式，它對電子產品的危害極大，其短路時間在數毫秒至幾十微秒之間，漏電流從微安量級突然上升到毫安甚至安培量級。雖然這種瞬時短路不會引起電容器的致命失效。但對電子設備的工作卻造成了嚴重干擾，使電子設備出現故障。

瞬時短路的原因是鉭芯表面的Ta2O5 膜存在疵點或缺陷。疵點或缺陷的出現是由于鉭材料不純或工藝不當等原因引入了雜質，或產生裂縫，孔洞等缺陷所造成。

針對瞬時短路，我們采用高溫負荷的手段，在應力條件下加高溫及多倍的電壓，剔除瞬時短路。在高溫下，留下的雜質與鉭金屬形成溶體，或以晶界夾雜物形式存在，由于電流集中在雜質存在的部位，產生局部發熱，引起氧化膜出現裂紋和裂縫，氧化錳顆粒就會乘機進入縫隙，致使漏電流增大。

2.1.2 突然擊穿

突然擊穿的原因是五氧化二鉭薄膜上的晶化點逐漸增大。當達到頂破無定性膜時就立即產生雪崩式熱擊穿，因短路面積較大，氧化錳的局部自愈作用無法修復，所以導致電容器發生致命性失效。通過高溫負荷手段，同樣可以剔除那些短路但無法自愈而導致突然擊穿所損壞的器件。

2.1.3 損耗角增大引起的失效

固體鉭電解電容器的劣化失效主要是由損耗角正切值增大引起。損耗增大對高頻特性危害極大，損耗包括五氧化二鉭膜的介質損耗，金屬導線焊接部位和顆粒層之間的接觸電阻損耗。

當電容器內部有接觸不良時，損耗角正切值將產生跳變或漂移。針對損耗角的問題，我們采用溫度沖擊的手段，通過加以相應的高溫及低溫的反復沖擊，剔除由于氧化錳層質量較差，與五氧化二鉭膨脹系數相差較大，而造成的接觸不良和結合不牢。

2.2 鋁電解電容器的失效機理

鋁電解電容器的正極基體是高純鋁箔，電介質是鋁箔表面形成的三氧化二鋁膜，陰極是具有一定粘度的溶體電解質。鋁電解電容器在電子設備中應用十分廣泛。其失效模式和機理敘述如下。

2.2.1 擊穿

引起擊穿的原因有原材料有雜質或制造缺陷等原因，因而產生一些極微小的孔洞甚至成為穿孔，結果導致電解液直接和陽極接觸而擊穿。同鉭電解電容手段一致，針對擊穿，我們采用高溫負荷的手段，在應力條件下加高溫及多倍的電壓，如果氧化膜表面存在雜質離子或其它缺陷，將會產生一些極微小的孔洞甚至成為穿孔，結果導致擊穿。

2.2.2 漏液

鋁電解電容器工作是類似于一個電解槽，工作電壓越高時間越長，在正、負極上產生的氣體就越多，其中多數氣體用來修補介質氧化膜缺陷，少數氣體被釋放出來并儲存在電容器內部的空腔內。如果氧化膜有縫隙、孔洞和疵點之類缺陷，將導致電容器因漏電流增大而產生更多的氣體和熱量，因而在電容器內部引起較高氣壓，當氣壓增加到一定程度時就會帶著電解質一并擠出外殼出現漏液。

漏液不僅造成了電容器周圍的元器件和印制板的腐蝕，而且會使電容器的電解質干涸，導致電容器喪失自愈能力，電容值下降，嚴重時甚至會造成開路失效。我們通常是通過溫度沖擊對鋁電解電容的外殼的密閉性進行考核, 而通過高溫負荷對漏液的問題進行解決。

作者: swg_78 時間: 2010-6-1 08:24

作者: pjar 時間: 2010-6-4 15:57
好東西

作者: zdz132101 時間: 2010-6-7 10:46
學習了，不錯

作者: ohlala44 時間: 2010-6-18 11:15
就這么點？有沒有to be continued啊？

作者: 陳小東 時間: 2010-8-11 20:26
謝謝，呵呵

作者: zxfzb828 時間: 2010-8-22 09:02
受教了！！！！！！！！！！！！！！！！

作者: qdqc 時間: 2010-8-23 18:37
xiexie

作者: tplinkwangxy 時間: 2010-8-31 08:05
可否講解一下，電容的特性參數測量

作者: tplinkwangxy 時間: 2010-8-31 08:15
個人意見，如有錯誤，敬請指正，謝謝！
通常電容開路，可取萬用表電阻R*1檔測量，正常時數字會變化，電容充電，對換正負（紅黑）表筆，電容放電，如呈現阻值呈現為無窮大，則電容已開路，如果出現阻值很小為1或用二極管檔位測試，呈導通狀態，則為短路。
請教大家一下如何測量電容的容量和是否漏電？

作者: jcshaw 時間: 2010-9-10 22:25
好東西啊，贊

作者: wbsh 時間: 2010-10-5 07:23

作者: t0199939 時間: 2011-3-14 19:08
請教大家一下如何測量電容的容量和是否漏電？

--- 用萬用表高阻值電阻檔，穩定后，若電阻不是無窮大（“L")，即為漏電
--- 電容容量測量沒有簡便方法。

作者: spy007868 時間: 2013-12-1 08:45
復制下來！！！！！！！！！！！我自己好好學習！！！！！！！！！！

謝謝.jpg (8.65 KB)

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