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標(biāo)題: 4644電源芯片性能測(cè)試需要測(cè)試哪些指標(biāo)呢？ [打印本頁]

作者: namisoft 時(shí)間: 2024-6-12 17:45
標(biāo)題: 4644電源芯片性能測(cè)試需要測(cè)試哪些指標(biāo)呢？
納米軟件電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)是專門針對(duì)國(guó)產(chǎn)化4644系列芯片測(cè)試而開發(fā)的一套自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，提供運(yùn)行測(cè)試、記錄報(bào)告、數(shù)據(jù)洞察等一站式自動(dòng)化測(cè)試服務(wù)。系統(tǒng)不僅可以為企業(yè)的研發(fā)帶來有力的數(shù)據(jù)支持，而且還能為企業(yè)的生產(chǎn)把關(guān)，提升國(guó)產(chǎn)化電源芯片的質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力。

　　測(cè)試項(xiàng)目
　　1. 輸入電壓范圍
　　2. 輸出電壓范圍
　　3. 輸出紋波
　　4. 電壓調(diào)整率
　　5. 負(fù)載調(diào)整率
　　6. 反饋端電壓
　　7. 欠壓關(guān)斷
　　8. 欠壓恢復(fù)滯后
　　9. 輸入偏置電流
　　10. 輸出電流
　　11. 輸出電流限制
　　12. 啟動(dòng)過沖
　　13. 啟動(dòng)延時(shí)
　　14. 負(fù)載躍變電壓
　　15. 效率測(cè)試
　　16. 效率曲線
　　17. SW占空比測(cè)試
　　18. 輸入輸出信號(hào)相位差測(cè)試
　　19. 內(nèi)部上取樣電阻
　　20. 內(nèi)部VCC電壓
　　21. INTVCC負(fù)載調(diào)節(jié)
　　22. 震蕩器頻率
　　23. CLKIN閾值
　　以上是4644電源管理芯片的主要測(cè)試項(xiàng)目，電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)也支持項(xiàng)目新增，全面檢測(cè)被測(cè)電源芯片。

　　參數(shù)
　　Power：80V/60A/800W
　　Load：CH1/CH2：150V/60A/400W
　　 CH3/CH4：150V/120A/600W
　　Scope：100MHz/共8通道
　　Meter：6位半
　　系統(tǒng)可適應(yīng)不同規(guī)格型號(hào)的電源管理芯片測(cè)試，測(cè)試儀器可以靈活選型。

　　測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
　　電源管理芯片測(cè)試系統(tǒng)旨在針對(duì)46XX系列的電源芯片進(jìn)行全面的自動(dòng)化測(cè)試，確保其在各種工作條件下均能達(dá)到預(yù)期的性能和安全標(biāo)準(zhǔn)。因此，系統(tǒng)在檢測(cè)被測(cè)產(chǎn)品時(shí)，嚴(yán)格按照客戶要求以及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，主要包括：
　　SJ 20646-97 標(biāo)準(zhǔn)
　　GJB 360B-2009《電子及元器件實(shí)驗(yàn)方法》
　　GJB 548C-2021《微電子元器件實(shí)驗(yàn)方法和程序》
　　SJ 20668-1998《微電路模塊總規(guī)范》
　　GJB 10164-2021《微電路模塊通用規(guī)范》

　　4644電源管理芯片被廣泛應(yīng)用在軍工、航空航天、通信電子等領(lǐng)域，電源芯片測(cè)試對(duì)于把控電源芯片質(zhì)量來說十分關(guān)鍵。因此，在電源管理芯片測(cè)試過程中，一定要注意測(cè)試的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性，精準(zhǔn)檢測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量。更多關(guān)于電源管理芯片效率曲線測(cè)試，可訪問：https://www.namisoft.com/NewsDetail/1626.html

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