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標(biāo)題: 芯片功耗測(cè)試之靜態(tài)功耗是什么？如何測(cè)試芯片靜態(tài)功耗？ [打印本頁]

作者: namisoft 時(shí)間: 2023-9-22 17:14
標(biāo)題: 芯片功耗測(cè)試之靜態(tài)功耗是什么？如何測(cè)試芯片靜態(tài)功耗？
   什么是靜態(tài)功耗？　　
   靜態(tài)功耗也叫靜態(tài)電流，是指芯片在靜止?fàn)顟B(tài)下的電流或者是指芯片在不受外界因素影響下自身所消耗的電流。靜態(tài)功耗對(duì)于芯片來說是衡量一款芯片的功耗與效率非常重要的指標(biāo)。
   傳統(tǒng)芯片靜態(tài)功耗測(cè)試的局限
　　傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)試靜態(tài)功耗只需在芯片的輸入端串上一臺(tái)萬用表，然后對(duì)芯片各個(gè)端口添加合適的電壓即可測(cè)量出芯片的靜態(tài)電流，整個(gè)流程十分簡(jiǎn)單，但是芯片的制作工藝極為復(fù)雜多樣，同時(shí)芯片規(guī)格也千變?nèi)f化，因此手動(dòng)測(cè)試在面對(duì)多批次、多規(guī)格的芯片測(cè)試時(shí)難免顧此失彼。很難保證測(cè)試的高效性和數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。所以芯片測(cè)試系統(tǒng)的使用就可以很明顯的避免這個(gè)問題。芯片的制作工藝極為復(fù)雜多樣，同時(shí)芯片規(guī)格也千變?nèi)f化，因此手動(dòng)測(cè)試在面對(duì)多批次、多規(guī)格的芯片測(cè)試時(shí)難免顧此失彼。

ATECLOUD系統(tǒng)如何測(cè)試芯片靜態(tài)功耗？
　　ATECLOIUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試靜態(tài)功耗只需先手動(dòng)連接線路，然后在測(cè)試系統(tǒng)中根據(jù)測(cè)試步驟搭建對(duì)應(yīng)的工步，然后運(yùn)行軟件可以完成整個(gè)測(cè)試，搭建過程只需2分鐘，而測(cè)試過程只需幾秒即可得出測(cè)試出結(jié)果，非常適用于大批量芯片測(cè)試，一次接線后就無需再次手動(dòng)變更參數(shù)、更換線路，系統(tǒng)可自動(dòng)完成參數(shù)配置、數(shù)據(jù)測(cè)量、數(shù)據(jù)讀取以及數(shù)據(jù)儲(chǔ)存，同時(shí)可以將數(shù)據(jù)結(jié)果一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告，極大的提升測(cè)試效率，避免出現(xiàn)數(shù)據(jù)錯(cuò)漏，提高測(cè)試準(zhǔn)確性。
　　雖然靜態(tài)功耗手動(dòng)測(cè)試也十分迅速，但是相對(duì)芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)來說，系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)也相當(dāng)明顯，除了測(cè)試效率性、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，芯片測(cè)試系統(tǒng)還有大數(shù)據(jù)分析功能，系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)洞察模塊，可以對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行整體分析和整理，可以將所有數(shù)據(jù)以折線圖或柱狀圖等形勢(shì)集中展示，為企業(yè)的發(fā)展和決策方向提供數(shù)據(jù)支持。更多詳情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html

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