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標題: 看這里！AD芯片、DA芯片自動化測試方案來了 [打印本頁]

作者: namisoft 時間: 2020-12-29 17:19
標題: 看這里！AD芯片、DA芯片自動化測試方案來了

隨著計算機技術和微電子技術的迅速發展，AD芯片/DA芯片測試系統的應用也越來越廣泛，將自動化測試引入AD芯片/DA芯片的制造過程，其主要目的還是為芯片質量與可靠性提供一種度量。今天介紹一款NSAT-2000電子元器件自動測試系統，正是可以對AD芯片/DA芯片進行自動化的測試。

芯片需要做哪些測試呢？主要分三大類：芯片功能測試、性能測試、可靠性測試，芯片產品要上市三大測試缺一不可。

功能測試看芯片對不對

性能測試看芯片好不好

可靠性測試看芯片牢不牢

1、NSAT-2000電子元器件自動測試系統可以進行功能測試：就是測試AD芯片/DA芯片的參數、指標、功能：例如位數、采樣率、輸入或輸出極性、范圍、輸出速度、精度等參數，從而判斷AD芯片/DA芯片的質量。其工作原理就是搭建一個“模擬”的芯片工作環境，把芯片的接口都引出，檢測芯片的功能，或者在各種嚴苛環境下看芯片能否正常工作。

2、NSAT-2000電子元器件自動測試系統的可靠性測試：在AD芯片/DA芯片制造過程中由于制造工藝和制造環境等多種原因，可能會使制造后的電路出現各種各樣的物理缺陷，比如線與線之間、層與層之間出現短路或者出現開后等，這都會導致制造后的AD芯片/DA芯片與預期不符，甚至影響到整機的工作。提高電子元器件的可靠性。

3、NSAT-2000電子元器件自動測試系統的失效測試：要使AD芯片/DA芯片可以可靠的工作，還要分析確定其失效機理，找出失效原因，從而實施糾正措施。NSAT-2000電子元器件自動測試系統可以借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象，分辨其失效模式和失效機理，確認最終的失效原因，提出改進設計和制造工藝的建議，防止失效的重復出現。

4、NSAT-2000電子元器件自動測試系統的老化測試：可完成在不同的溫濕度環境、振動環境下，自動測試并實時采集AD芯片/DA芯片的老化特性的性能指標數據。壓源控制電路在控制器的控制下，控制電壓的通和斷，從而為芯片的老化測試提供了使芯片在短時間內不斷的經歷上電和掉電過程的測試環境，信號檢測電路檢測該芯片老化測試數據，通過對該測試數據進行分析，即可得到芯片的老化性能，從而得到芯片的使用壽命。

以上就是NSAT-2000電子元器件自動測試系統對AD/DA芯片進行自動化測試的方案分享，這是一個快速發展的時代，自動化的測試終將取代傳統手工的測試，帶給我們更多驚喜。

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