隨著電磁研究的深入和電子技術的發展，天線的發展和應用已經滲透到導航、通信、電子對抗和雷達等諸多領域，多波束天線可通過相控陣同時或分時地形成多個相互獨立的發射或接收波束，實現波束形狀的靈活控制和波束指向的迅速切換。目前最廣泛應用的相控陣天線測試方法主要有三種：遠場法、近場法和緊縮場法。
每種測試方法都有各自的優缺點，如遠場測量適用于低增益、低頻天線的測量；近場測量適用于高增益、高頻、口徑全息測量等，測試方法的選擇需要對各種因素進行折中考慮。本文對相控陣天線的遠場測試方法進行了論述研究，主要包括EIRP、G/T 值以及方向圖等指標特性。
受限于實施基站天線遠場測試時間和成本，許多移動運營商不能如愿測試天線。因為搭建遠場需要極遠距離，所以不適宜直接在全電波暗室測試遠場。很難找到室外測試基地，并且使用室外基地受天氣因素所限。這就要求有特定房間能夠運用特定技術測試大型天線。另外，許多基站天線經過機械調整會改變陣列模式，這就需要一種擁有多個設置的測試方法。基于上述困難，在全電波暗室進行測試每天至少要花費1800到2000美元，每次測試需要3到4天。如果測試表明設計要改良，移動運營商很可能要進行額外的測試，除非他們在全電波暗室測試前進行了預測試。預定全電波暗室測試長達兩或三個月，所以僅預定這項測試就使項目發布延遲了相當多時間。
為克服這些困難，一家大型移動運營商的工程師們采用了EMSCAN RFX2天線模型測試系統。桌面掃描儀生成天線測試數據，把結果映射到遠場模型上。這種情況下，測試組在700MHz和1950MHz的環境下進行測試。由于陣列尺寸超過了掃描儀可掃描的范圍，測試組不能通過一次來測試天線。為解決這個難題，他們進行了四次掃描，每40cm掃描一次，形成總共160cm*40cm的掃描面積。
測試設置
注意圖1中天線陣懸浮于RFX2掃描儀上方最大可支撐距離115mm處來使掃描儀和在測天線之間影響最小化。在測天線陣重20kg，長150cm，寬 30cm，厚15cm。下圖1中第一個測試位置RFX2接近天線陣頂部。覆蓋掃描儀的吸收材料也有助于最小化人工移動掃描儀40cm向下一段位置時的影 響。如此移動掃描儀對應于掃描儀的掃描范圍。測試期間，當工程師們手動掃描儀到下一段位置時，他們借助于網絡分析儀監控天線的S11。吸收材料正如所期望 那樣發揮效用，當掃描儀移動時回波損耗幾乎無變化。第一個掃描儀測完第一段之后，掃描儀向左移動40cm由第二個掃描儀進行測試，無其他變化。每次掃描耗 時不到2秒，測試組直到四個掃描儀完成掃描之后才把掃描儀移動到接下來的測試位置。每個隨后的測試與之前掃描面積重疊形成一個校準點把四個掃描儀準確的連 成一線。整個測試及后續處理時間需要約30分鐘。
圖1：測試設置
700MHz時結果
使用后續處理技術，測試組把四個圖像合為一體。這樣四個測試位置之間形成相位連續性。盡管在這個研究實例中相位改變是手動實現的，但因為硬件研發中的一 個小小變化相位連續性是自動的。圖2為700MHz時采用非常近場測試的電磁場(H-field)合并結果。下圖中每個圖分別列有Hx振幅，Hy振 幅，Hx相位和Hy相位。每幅圖的右邊通過連接器對應天線的末端。
圖2:700MHz電磁場(H-Field)
運用后期的處理技術把700MHz時的近場測試結果處理轉化為遠場結果，接著運用定制化的、擁有專利程序將其轉換成遠場結果，同時，消除測試陣列中可預測的耦合效應。
圖3：700MHZ輻射圖VS產品說明書中數據
下圖所示1950MHz時結果與第4頁700MHz時結果相同。圖4中每幅圖分別列有Hx振幅，Hy振幅，Hx相位和Hy相位。
圖4： 1950MHZ時電磁場(H-Field)
運用同樣后期的處理技術和定制程序把1950MHz時的近場測試結果處理轉化為遠場結果(如下圖5)。我們注意到這兩個波長結果圖與700MHz時波長結果圖有相似之處，但1950MHz的波長光速更窄，水平方向不像700MHz波長結果圖所顯示的那么全方位。
結論：近場天線測試的優勢
所有移動服務運營商都面臨測試大型基站天線的問題。測試這種天線需要配有特殊性能極大且昂貴的全電波暗室。對于這些運營商來說，RFX2天線特性測試系統解決了在大型暗室測試的難題，即高的讓人望而卻步費用及耗時的測試過程。
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