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標題: PCB工藝缺陷原因及排除法----底片篇 [打印本頁]
作者: qq8426030 時間: 2013-4-7 14:10
標題: PCB工藝缺陷原因及排除法----底片篇
PCB工藝缺陷原因及排除法----底片篇
底片,是pcb加工廠要用到的重要原材料之一。其與照相用的底片是一樣的工作原理,因此對保存和使用的條件都有很高的要求。稍有不恰當的處理就會產生很多問題。這期我們就來講講底片的一 些缺陷原因及排除方法
A .光繪制作底片
1.問題:底片發霧,反差不好
(1)舊顯影液,顯影時間過長。 解決方法:采用新顯影液,顯影時間短,底片反差好(即黑度好)。
(2)顯影時間過長。 解決方法:縮短顯影時間。
2.問題:底片導線邊緣光暈大
顯影液溫度過高造成過顯。 解決方法:控制顯影液溫度在工藝范圍內。
3.問題:底片透明處顯得不夠與發霧
(1)定影液過舊銀粉沉淀加重底片發霧。解決方法:更換新定影液。
(2)定影時間不足,造成底色不夠透明。解決方法:定影時間保持60秒以上。
4.問題:照相底片變色
定影后清洗不充分。 解決方法:定影后需用大量流動水清洗,最好保持20分鐘以上。
B.原片復制作業
1.問題:經翻制的重氮底片圖形變形即全部導線變細而不整齊
(1)曝光參數選擇不當。 解決方法:根據底片狀態,進行優化曝光時間。
(2)原底片的光密度未達到工藝數據。 解決方法:測定光密度,使明處達到Dmax4.0數據以上;未要求透明部分其光密在Dmin0.2以下。
2.問題:經翻制的重氮底片其邊緣局部導線寬度變細而不整齊
(1)曝光機光源的工藝參數不正確。 解決方法:采用儀器測量紫外光源燈能量的衰減,如超過使用壽命應進行更換。
(2)需翻的重氮片面積超出曝光框之最佳范圍。 解決方法:根據生產情況縮小拼版面積或由于光源太近,將光源提高以拉開與曝光臺面的適當的距離,確保大尺寸的底片處于良好的感光區域內。
3.問題:經翻制的重氮片全部或局部解像度不良
(1)原采用的底片品質差。 解決方法:檢查原底片線路邊緣的成像狀態,采取工藝措施改進。
(2)曝光機臺面抽真空系統發生故障。 解決方法:認真檢查導氣管道是否有氣孔或破損。
(3)曝光過程中底片有氣泡存在。 解決方法:檢查曝光機臺面是否沾有灰粒;檢查子片與曝光機臺面所墊黑紙是否有凹蝕或折痕。
4.問題:經翻制的重氮底片導線變寬,透明區域不足(即Dmin數據過大)
選擇的曝光工藝參數不當。解決方法:A.選擇適當的曝光時間。B.可能重氮片存放環境接近氨水或有氨氣存在,造成不同程度的顯影所至。
5.問題:經翻制的重氮底片遮光區域不足(Dmax數據過低)
(1)翻制重氮底片時,顯影不正確。 解決方法:A.檢查顯影機是否發生故障。B.檢查氨水供應系統,測定濃度是否在Be‘26(即比重為1.22)以上。
(2)原重氮片材質差。 解決方法:測定原底片材料的光密度Dmax是否在4.0以上。
6.問題:經翻制的重氮底片暗區遮光性能低Dmax偶而不足
(1)經翻制重氮片顯影不正確。 解決方法:檢查氨氣顯影機故障狀態,并進行調整。
(2)原底片材料存放環境不良。 解決方法:按底片材料說明書要求存放,特別要避免光直照或接近氨水存放處。
(3)操作顯影機不當。 解決方法:特別要檢查顯影機輸送帶的溫度,采用感溫變色的特用貼紙檢測,應符合工藝要求(非氨水槽中控溫器)。
7.問題:經翻制的重氮片圖形區域出現針孔或破洞
(1)曝光區域內有灰塵或塵粒存在。 解決方法:特別要仔細檢查曝光臺面、原始底片及新重氮片表面干凈情況,并進行擦試。
(2)原始底片品質不良。 解決方法:在透圖臺面檢查,并進行仔細的修補(需要證明原始底片質量時可采取重新翻制第二張,核查對比如相同,可證明之)。
(3)所使用的重氮片品質有問題。 解決方法:采取將未曝光的原始重氮片直接氨氣顯影,使全片呈遮光的深棕色,再仔細檢查是否有針孔與破洞,如有,就可證明之。
8.問題:經翻制的重氮片發生變形走樣
環境溫濕度控制不嚴。 解決方法:A.加裝溫濕度控制器,調節室內達到工藝要求范圍內。B.作業環境溫濕度控制:溫度為20-270C;濕度40-70%。精度要求高的底片,其濕度控制在55-60%RH。
(2)經顯定影后,干燥過程控制不當。 解決方法:按照工藝要求將底片水平放置進行吹風、干燥。不宜吊掛晾干,這樣,易變形。
(3)翻制前重氮片穩定處理不當。 解決方法:應在底片存放間環境下存放24小時,進行穩定處理。
C.黑白底片翻制工藝
1.問題:經翻制的黑白底片全部導線寬度變細而不齊
(1)曝光工藝參數選擇不當。 解決方法:首先檢查正翻負或負翻正是否曝光過度,應根據實際進行修正。
(2)原底片品質不良。 解決方法:檢查原底片光密度,特別是“遮光密度”是否太低。
(3)翻制過程顯影控制有問題。 解決方法:檢查顯影液濃度和裝置。
2.問題:經翻制的底片其外緣導線寬度變細而不整齊
(1)曝光設備校驗過期。解決方法:重新根據工藝要求進行校驗,檢查光源能量是否在技術要求之內。
(2)光源太接近較大尺寸底片。 解決方法:重新調整光源距離或改用大型曝光機。
(3)光源反射器距離與角度失調。 解決方法:重新調節“反射罩面”的距離與角度。
3.問題:經翻制底片解像度不理想,全片導線邊緣不銳利
(1)原底片品質不佳。 解決方法:檢查原始底片導線邊緣狀態。
(2)曝光機抽真空系統功能性差。 解決方法:A.特別要檢查密接部分是否密封及與底片密接部分。B.如抽氣不足,要檢查抽氣軟管是否破損。
4.問題:經翻制的底片局部解像度不良
(1)原始底片品質不佳。 解決方法:檢查原始底片導線邊緣的不良情形。
(2)曝光機抽真空系統功能性差。 解決方法:A.檢查抽真空系統的密接處及翻制底片的密接部分。B.檢查氣路軟管是否有破損部分。
(3)曝光過程中底片間有氣泡存在。 解決方法:曝光機臺面存有灰粒,必須強化抽氣系統。
5.問題:經翻制的底片光密度不足(主要指暗區的遮光程度不足)
(1)經翻制底片顯影過程不正確。 解決方法:檢查顯影工藝條件及顯影液濃度。
(2)原裝底片存放條件不良。 解決方法:需要存放在符合工藝要求的室內,特別要避免見光。
(3)顯影設備功能變差。 解決方法:檢查與修理,特別是溫度及時間控制系統。
6.問題:經翻制的底片圖形面出現針孔或破洞
(1)曝光機臺面有灰塵或顆粒。 解決方法:應認真做好的原始底片、曝光臺面等清潔工作。
(2)原始底片品質不良。 解決方法:檢查原始底片圖形表面狀態,必要時,可試翻第二張底片,以進行對比檢查。
(3)原裝底片基材品質差。解決方法:進行試驗性檢查,使整片曝光顯影后觀察暗區黑面是否有針孔或空洞。
7.問題:經翻制的底片電路圖形變形
(1)工作環境溫濕度不正確。 解決方法:作業的環境溫濕度控制:溫度20-270C;濕度40-70%RH,精度要求高的底片,其作業濕度應控制在55-60%RH。
(2)干燥過程不正確。 解決方法:將底片水平放置吹干,其干燥時間厚(100μm),底片干燥1-2小時;厚度175微米,基片干燥6-8小時。
(3)待翻制的底片前處理不適當。 解決方法:需在底片房環境中放置至少24小時,進行穩定性處理。
8.問題:底片透明區域不足或片基出現云霧狀
(1)原裝底片基材中已有夾雜物。 解決方法:選用高解像度品質的原裝底片。
(2)原裝片基表面不良。 解決方法:確保存放環境的溫濕度控制。
(3)原裝底片品質不良。 解決方法:首先要檢測原裝底片性能與品質。
(4)曝光、顯影過程有問題。 解決方法:對設備情況和顯影液、定影液及工藝條件進行檢查并進行調整。
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作者: panminghui 時間: 2013-4-21 08:33
受教育了!。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。!
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2013-4-21 08:33 上傳
作者: pcbkey 時間: 2015-2-4 15:20
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